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产品展示
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新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统
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MMS系统可以配置多种Fischer智慧型探头,这样,使用者就可以下列测试方法中的一种或其组合实现无损测量:磁感应法,涡流法,BETA散射法,霍耳效应或电阻法