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产品详情
简单介绍:
测试频率:12Hz ~ 200kHz ,0.1% 高量测准确度, 100 组设定条件记忆储存、呼出功能
详情介绍:
LCR-821高精密LCR测试仪台湾固纬 GWinstek
特性:
测试频率:12Hz ~ 200kHz, Continuously Variable Frequencies
0.1% 高量测准确度
100 组设定条件记忆储存、呼出功能
R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z/θ, L/R 测试模式
值, 差异值(Δ), 差异百分比(Δ%)显示
240 x 128 大型 LCD 显示幕
测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
内建 RS-232C 介面 (含 LCR-Viewer 控制软体)
测试频率:12Hz ~ 200kHz, Continuously Variable Frequencies
0.1% 高量测准确度
100 组设定条件记忆储存、呼出功能
R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z/θ, L/R 测试模式
值, 差异值(Δ), 差异百分比(Δ%)显示
240 x 128 大型 LCD 显示幕
测试条件及测试结果同时显示在萤幕上
内建 RS-232C 介面 (含 LCR-Viewer 控制软体)
LCR-821高精密LCR测试仪详细介绍
规 格 | |||
测试频率 |
12Hz ~ 200kHz (504 steps) | ||
基本准确度 |
0.1% | ||
测试电压 |
5mV ~ 1.275V (5mV/step) | ||
直流位准 |
外部 |
2V | |
|
内部 |
0~35V | |
显示范围 |
串/并联等效阻抗 |
R |
0.00001Ω ~ 99999kΩ |
电容 |
C |
0.00001pF ~ 99999µF | |
电感 |
L |
0.00001mH ~ 99999H | |
品质因素 |
Q |
0.0001 ~ 9999 | |
散逸因素 |
D |
0.0001 ~ 9999 | |
阻抗 |
|Z| |
0.00001Ω ~ 99999kΩ | |
相位 (Degree) |
θ |
-180.00° ~ 180.00° | |
量测模式 |
R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z/θ, L/R | ||
等效电路 |
具串联与并联两种方式可供选择 | ||
记忆体 |
100组 | ||
平均测试值 |
1~255次 | ||
量测速度 |
SLOW, MEDIUM 以及 FAST | ||
量测值显示 |
Value, Δ, Δ% | ||
显示幕 |
240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCD | ||
介面 |
RS-232C | ||
使用电源 |
100V ~ 240V, 50/60Hz | ||
附件 |
电源线 x 1, 操作手册 x 1, 测试制具: LCR-06A x 1 选购测试制具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09 | ||
尺寸及重量 |
330(宽) x 149(高) x 437(长)mm, 约 5.5 公斤 | ||
|
|
零 组 件 测 试 仪 器 | |
机 种 |
主要功能或用途 |
LCR - 821 |
高精密LCR测试仪 12 ~ 200kHz (504 steps) |
LCR - 819/829 |
高精密LCR测试仪 12 ~ 100kHz (503 steps) |
LCR - 817/827 |
高精密LCR测试仪 12 ~ 10kHz (489 steps) |
LCR - 816/826 |
高精密LCR测试仪 12 ~ 2kHz (245 steps) |